激光法導熱分析儀

激光法導熱分析儀

激光法導熱分析儀

儀器簡介

LFA 457 儀器為桌上型，溫度范圍 -125 ... 1100°C。為了覆蓋這一溫度范圍，提供了兩種可自由切換的爐體。

系統(tǒng)所使用的全新的紅外傳感器技術使得用戶可以在 -125°C 的低溫下測量樣品背部的溫升曲線。

儀器既可使用內置的自動樣品切換器在一次升溫中對多個較小的樣品進行測量，也可單獨測量較大的樣品（z大直徑 25.4mm）。

真空密閉系統(tǒng)使得儀器可以在多種用戶可選的氣氛中進行測量。

樣品支架、爐體與檢測器的垂直式排布方便了樣品的放置與更換，同時使得檢測信號擁有*的信噪比。

LFA 457 是強大與靈活的 LFA 系統(tǒng)，適用于包括汽車制造、航空航天與能源技術在內的各種領域的常規(guī)材料與新型高性能材料的表征。

LFA 457 MicroFlash^® - 技術參數(shù)

LFA 457 MicroFlash^® - 軟件功能

LFA 457 MicroFlash^® 的測量與分析軟件是基于 MicroSoft Windows^® 系統(tǒng)的 Proteus^® 軟件包，它包含了所有必要的測量功能和數(shù)據(jù)分析功能。這一軟件包具有極其友善的用戶界面，包括易于理解的菜單操作和自動操作流程，并且適用于各種復雜的分析。Proteus 軟件既可安裝在儀器的控制電腦上聯(lián)機工作，也可安裝在其他電腦上脫機使用。

LFA 部分軟件功能：

• 精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分。

• 熱損耗修正。

• 集成了所有傳統(tǒng)模型。

• 使用非線性回歸進行 Cowan 擬合。

• 改進的 Cape-Lehmann 模型，使用非線性回歸，將多維熱損耗納入計算。

• 對于半透明樣品的輻射修正。

• 二層與三層結構樣品：通過非線性回歸方式進行擬合，并將熱損耗納入計算。

• 計算多層樣品的接觸熱阻。

• 比熱測量：使用已知比熱的標樣、通過比較法進行計算。

• 內置數(shù)據(jù)庫。

LFA 457 MicroFlash^® - 應用實例

多晶石墨

使用配有低溫系統(tǒng)的 LFA 457 對多晶石墨進行了測試，測試曲線上材料在室溫附近導熱系數(shù)達到z大，一般解釋為由于該材料的 Debye 溫度較高（> 1000 K）所致。在峰值右側的高溫區(qū)域，熱擴散系數(shù)隨溫度上升而下降得比較快，主導了該區(qū)域的導熱系數(shù)變化的趨勢。峰值左側的低溫區(qū)則比熱下降的非?？?，這主導了低溫下該材料的導熱系數(shù)隨溫度變化的趨勢。

聚碳酸酯

聚碳酸酯（PC）是一種非常常見的聚合物材料，常用于電動工具包裝。為了通過有限元素模擬的方法以優(yōu)化生產(chǎn)／模制工藝，需要知道它的熱物性參數(shù)。如果使用 LFA 457 的熔融樣品容器，則不僅能測得固態(tài)下、也能測得玻璃化轉變溫度以上（> 140°C）的材料的熱擴散系數(shù)。若已知密度與比熱數(shù)據(jù)（可用 DSC 測試），則可計算得到導熱系數(shù)。此外，在比熱曲線與熱擴散曲線上還可以看到玻璃化轉變（在導熱系數(shù)曲線上則無法看到這一類似于二級相變的轉變過程）。